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扫描电镜/光学显微镜弹道分析系统

型号:

Deben弹道分析样品系统作为适配各型号扫描电镜或光学显微镜功能扩展样品台,能够适配几乎所有常见类型的子弹和弹夹,能够同时平行装配两个样品进行详细细节比较,每个样品都能够独立进行360度连续旋转并进行相关高度调节,通过图像对比技术能够获得相关可作为证据使用的数据,并很方便在未来进行数据库对比。
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Deben弹道分析样品系统作为适配各型号扫描电镜或光学显微镜功能扩展样品台,能够适配几乎所有常见类型的子弹和弹夹,能够同时平行装配两个样品进行详细细节比较,每个样品都能够独立进行360度连续旋转并进行相关高度调节,通过图像对比技术能够获得相关可作为证据使用的数据,并很方便在未来进行数据库对比。

n 适配真空分析系统
n 适配市面上大多数型号扫描电镜
n 双子弹及弹夹装载设计
n 独特枪击残留物分析校准样品台
n 双样品同步旋转
n 控制方便
 

应用领域:

n 刑侦科学

n 枪机残留物分析

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