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PicoMill® TEM specimen preparation system 电子束/氩离子束双束精修系统

型号:1080

Achieve ultimate specimen quality – free from amorphous and implanted layers
Complements FIB technology
Milling without introduction of artifacts
Advanced detector technology for imaging and precise endpoint detection
In situ imaging with ions and electrons
Microscope connectivity for risk-free specimen handling
Adds capability and capacity
Fast, reliable and easy to use
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Achieve ultimate specimen quality – free from amorphous and implanted layers
Complements FIB technology
Milling without introduction of artifacts
Advanced detector technology for imaging and precise endpoint detection
In situ imaging with ions and electrons
Microscope connectivity for risk-free specimen handling
Adds capability and capacity
Fast, reliable and easy to use
应用更新中...
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