产品中心
PRODUCT CENTER
借助3D校准套件，point electronic公司实现了对电子显微镜进行地形学校准的能力，即对样品进行三维材料分析。该套件包含一个带有参考数据的校准标准件以及我们的microCal校准软件。
一、设备亮点
3D校准套件可实现校准样本的三维测量。通过将测量数据导入校准软件microCal，即可启动自动化分析。该流程通过与参考数据对比提取比例参数，从而实现精准度评估，并在必要时应用比例校正。
优势：
➥ 同时处理横向与纵向校准参数（尺度、剪切）；
➥ 确定所有纵向与横向轴之间的耦合关系；
➥ 基于先进图像处理方法实现高效精准校准；
➥ 软件及校准结构兼容多种显微镜；
➥ 可选配球面段用于分段式背散射探测器（BSE）信号调节。
校准标准与软件符合VDI/VDE指南2656《扫描探针显微镜测定几何量——测量系统校准》规范。
本系统包含硬件与软件两部分。
二、设备硬件
含参考数据的校准样本
➥ 带参考标记的3D校准标准件，用于自动化校准
➥ 可追溯校准的参考数据
➥ 适用于不同显微镜类型（3D-SEM、AFM、CLSM）
三、设备软件
校准软件 microCal
➥ 采用统计方法自动计算所有空间校准参数
➥ 计算横向和纵向尺度及空间剪切效应
➥ 导出设备校正参数并生成结果文档
400-606-8199
沪公网安备 31011702008509号
