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2020年第十一届全国FIB技术及学术交流研讨会

管理员 发布于:2020-09-16

 

 

 

        受中国电子显微镜学会FIB专业委员会委托,2020年第十一届全国FIB技术及学术交流研讨会,由金属材料强度国家重点实验室、西安交通大学材料科学与工程研究院和西安开普纳信息科技有限责任公司联合承办。研讨会将邀请本领域知名科学家、研究者和工程师就FIB基础技术及其在材料科学、生命科学、物理学、化学化工、环境科学等领域中的基础研究和应用研究等最新进展做大会报告,同时也邀请相关设备厂商做FIB相关的最新发展介绍及深度技术交流。

       上海微纳作为本次大会的合作赞助商,将于2020年9月29日为用户带来Fischione FIB样品精修解决方案的主题报告.
        报告人:衡潘
        同期我司将于2020年9月28日15:00~17:20 在西安交通大学举办Fischione NanoMill FIB样品精修系统应用培训第一期-西安站
        培训地点:西安交通大学-兴庆校区材料学院电镜平台
        培训人:王佳庆
 
 
NanoMill设备简介
 
 
 
       革命性超低能量微束离子束制样设备,其采用惰性气体为气源,能够有效去除非晶层及离子注入问题,具备离子成像功能,能够高精度定位去除非晶层,是FIB制备样品后续精修绝佳制样工具。
     针对当下很多先进功能材料研究来说,透射电镜是最佳获取材料微观结构与物理特性的分析手段。伴随着纳米科技研究的进步以及半导体制程的持续减小,制备出非常薄、无任何人为假象的样品变得越来越关键。这些需求对于当下具备亚埃级分辨率带球差矫正器及单色器的透射电镜来说更为关键。
 
        NanoMill微束定点离子减薄仪采用极低能量同时经过聚焦的氩离子束,来制备超高质量的透射电镜样品。
  •  超低能量的惰性气体离子源

  •  

     具备扫描功能的聚焦离子束,最小离子束斑1微米

     

  •  

     去除非晶层的同时 ,不产生任何二次沉积效应

     

  •  

     特别适合FIB制备的样品的非晶层去除

     

  •  

     能够增强传统离子减薄制备的样品的成像质量

     

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     可在室温或低温下进行制样修复,最低温度可到-170 ℃ 以下

     

  •  

     快速换样设计,满足高通量样品制备的需求

     

  •  

     计算机控制,所有操作均可可程序化设定,使用方便

     

  •  无污染无油真空系统


 

 

 

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