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上海微纳参加第二届电镜技术在文化遗产学中的应用研讨会

管理员 发布于:2025-11-14

2025年11月9日至11日,由上海科技大学与故宫博物院联合主办的第二届“电镜技术在文化遗产学中的应用研讨会”在北京故宫博物院成功召开。上海科技大学副教授王竹君与故宫博物院文保科技部副主任雷勇担任大会主席,来自国内外科研院所、高校与文博机构的专家学者齐聚一堂,围绕电子显微成像技术在文化遗产研究与保护中的最新成果与未来方向展开深入交流。

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大会现场

 

开幕式上,故宫博物院副院长朱鸿文指出,电子显微技术的飞速发展正在为文物保护提供新的视角与方法,使我们得以在微观层面理解历史材料的构造与变化,从而更科学地守护文化遗产。上海科技大学常务副校长兼教务长印杰在致辞中表示,电镜技术正成为连接材料科学与文化遗产学的重要桥梁,本届会议将促进不同领域间的交流合作,推动形成跨学科的研究共同体。

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故宫博物院副院长朱鸿文开幕致辞

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印杰副校长开幕致辞

 

会议报告内容涵盖放射化学、同步辐射分析、跨尺度显微成像、二维材料防护、电化学腐蚀与超分辨成像等多个前沿方向。中国科学院高能物理研究所柴之芳院士以“考古学是一门典型交叉学科”为题,回顾了放射化学与考古学交汇的历程,强调科学分析方法在文化遗产研究中的基础性作用。比利时安特卫普大学 Koen Janssens 教授介绍了宏观与微观 X 射线分析结合的无损表征方法,为大型文物的整体分析提供了新路径。此外,北京工业大学柯小行教授、东京大学大越慎一教授、北京大学刘开辉教授、德国亥姆霍兹埃尔兰根 - 纽伦堡研究所 Karl Mayrhofer 教授、清华大学于荣教授、故宫博物院雷勇研究员等多位专家也分别带来了精彩报告,从不同维度展现了电镜技术在文化遗产领域的创新应用。

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柴之芳院士作会议报告

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Koen Janssens教授作会议报告

 

上海微纳国际贸易有限公司作为专业的电镜制样设备及电镜功能扩展附件供应商,全程列席会议并深入了解电镜技术在文化遗产学领域的前沿应用方向与科研需求,为后续探索适配该领域的设备解决方案积累了宝贵的行业经验。

 

本届研讨会的成功举办,有力推动了材料科学、分析化学与文化遗产保护学的深度对话与融合,展示了尖端表征技术为解读历史、守护文明所提供的全新科学视角与解决方案。上海微纳通过此次参会,进一步认识到电镜技术在满足特殊、珍贵样品表征需求方面所面临的挑战与机遇。未来,公司将持续关注前沿交叉领域的创新需求,依托其全面的电镜制样与原位解决方案,为包括文化遗产研究在内的多学科高端科研提供更为精密的设备与技术支撑。

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大会合影

 

上海微纳国际贸易有限公司作为一家专注于电镜制样设备及扩展电镜功能原位及成像附件设备的供应商,目前是美国Fischione公司、Protochips公司、LatticeGear公司、IBSS公司,瑞士Dectris公司(电镜产品线)、condenZero公司、IMINA公司,英国SPTLabtech公司、Quorum公司、Deben公司,德国PNDetector公司、Point Electronic公司在中国区的总代理,并进一步获得Fischione、Protochips、Quorum、Dectris(电镜产品线)在东南亚地区的独家代理权(授权区域:新加坡、马来西亚、印度尼西亚、菲律宾、越南、老挝、柬埔寨、泰国),同时为更好地服务东南亚客户,公司成立了新加坡分公司——Singapore Winner Scientific Instruments PTE LTD。

 

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