2026年7月13日至16日，第33届IEEE集成电路物理与失效分析国际研讨会（IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits，IPFA 2026）在新加坡滨海湾金沙会展中心成功举办。IPFA作为半导体失效分析与可靠性评估领域的重要会议，每年吸引超过550名来自学术界、产业界及仪器厂商的专家学者参与。本次会议涵盖了失效分析技术、可靠性评估、先进制程表征等多个前沿方向，为全球半导体行业同仁提供了高水平的学术交流与技术协作平台。

大会现场

上海微纳国际贸易有限公司作为专业的电镜制样设备及电镜功能扩展附件设备供应商，应邀参加本次ICAM2026会议。本次会议由新加坡分公司——Singapore Winner Scientific Instruments PTE LTD代表参会。会议期间，新加坡微纳联合Fischione、Protochips及Point  Electronic三大品牌，在A23展位举办了为期三天的技术交流午餐会（Luncheon Seminars），围绕半导体失效分析领域的创新技术展开深度分享与交流。

7月14日，Fischione的首席执行官Paul Fischione先生带来题为《ChipMill: Automated large-area argon ion beam delayering with nanometer-scale planarity》的报告，介绍了具备纳米级平面度的大面积离子束分层解决方案，为先进半导体器件失效分析提供了高质量样品制备方案。

报告现场——《ChipMill: Automated large-area argon ion beam delayering with nanometer-scale planarity》

7月15日，Protochips全球销售副总裁Simon Ma博士以《From Atoms to Devices: Advanced In-Situ Electrical Characterisation of Next-Gen Semiconductors》为题，分享了原位电学表征技术在半导体器件研发中的前沿应用与突破。

报告现场——《From Atoms to Devices: Advanced In-Situ Electrical Characterisation of Next-Gen Semiconductors》

7月16日，Point Electronic产品经理René Hammer博士以《Electrical Analysis in STEM (STEM EBIC, STEM RCI) – Introduction, Applications and Solutions》为题作报告，系统讲解了STEM中电学分析技术的原理、应用场景及整体解决方案。

报告现场——《Electrical Analysis in STEM (STEM EBIC, STEM RCI) – Introduction, Applications and Solutions》

本次会议，我司展区集中展示了多款半导体领域的先进产品与技术方案，如Fischione制样系统：包括1064 ChipMill SEM/SIMS/EDS一体离子束制样设备（可处理10×10mm样品，具备纳米级平面度与AI反馈控制）、1080 PicoMill双束定点精修系统（适用于7nm finFET等先进制程样品的减薄与抛光）、1040 NanoMill微束定点氩离子精修系统（可制备无非晶层、无离子注入损伤的原子级分析样品）、1062 TrionMill可控离子束制样系统及1061 SEM Mill氩离子抛光仪。专为4D STEM设计的混合像素探测器DECTRIS ARINA，帧速率高达120,000帧/秒，适用于晶体相位与取向分析、叠层衍射成像等应用场景。Protochips Fusion AX原位加热加电解决方案：支持在透射电镜中同时进行加热与电学测量，适用于半导体器件、相变材料、催化剂等原位研究。Point Electronic TEM电学分析解决方案：包括透射电镜电性分析放大器（用于STEM-EBIC/STEM-RCI分析）及REVOLON扫描控制器，可适配主流电镜型号，实现灵活的扫描模式与信号采集。并展示了上述产品在7nm finFET、20nm NAND、AlN柱状结构、GaN HEMT器件及SiGe纳米线等典型半导体样品上的应用案例数据，吸引了众多参会专家与技术人员驻足交流。公司团队就产品性能、应用场景及技术细节进行了深入沟通与解答。

展位现场

本次IPFA 2026的成功举办，进一步推动了半导体失效分析与可靠性评估领域的技术交流与产学研合作。新加坡微纳通过深度参与并主办技术交流午餐会，有效提升了公司在东南亚乃至全球半导体领域的品牌影响力，加强了与国际顶尖科研机构及产业伙伴的联系。未来，新加坡微纳将继续依托上海微纳总部丰富的产品资源与技术支持能力，结合本地化服务优势，为东南亚半导体产业客户提供更加高效、专业的电镜制样、原位分析及失效分析解决方案。诚邀有需求的老师送样DEMO或莅临公司交流，期待下一届IPFA再相聚！

团队合影

关于上海微纳国际贸易有限公司

上海微纳国际贸易有限公司作为一家专注于电镜制样设备及扩展电镜功能原位及成像附件设备的供应商，目前是美国Fischione公司、Protochips公司、LatticeGear公司、IBSS公司，瑞士Dectris公司（电镜产品线）、condenZero公司、IMINA公司，英国SPTLabtech公司、Quorum公司、Deben公司，丹麦InsightChips公司、德国PNDetector公司、Point Electronic公司在中国区的总代理，并进一步获得Fischione、Protochips、Quorum、Dectris（电镜产品线）、Point Electronic、PNDetector和Deben在东南亚地区的独家代理权（授权区域：新加坡、马来西亚、印度尼西亚、菲律宾、越南、老挝、柬埔寨、泰国），同时为更好地服务东南亚客户，公司成立了新加坡分公司——Singapore Winner Scientific Instruments PTE LTD。