2024年11月5日，由仪器信息网与上海微纳国际贸易有限公司联合主办的“多尺度可控环境电镜制样技术研讨会”在仪器信息网平台上圆满举行。会议自14:00至17:00进行，吸引了来自高校、科研院所、工业企业及检测机构的众多专业人士参与。

随着球差校正电镜在国内的普及以及电镜技术的快速发展，对电镜样品的质量要求日益提高。从样品的前期制备到后期等离子清洗，每个步骤都直接关系到样品最终的分析结果。特别是对于水氧敏感及低温冷冻样品的制备，需要特殊的解决方案。此外，不同成像方式如常规衍衬观察、HRTEM成像、STEM成像及Ptychography成像等，对电镜样品的要求也各不相同。因此，如何制备出高质量的电镜样品成为当前研究的热点和难点。本次研讨会邀请了多位在电镜制样技术领域具有深厚造诣的专家学者进行报告分享。

以下是会议现场速递：

南京航空航天大学的王毅教授带来了题为《功能材料原子尺度结构与电子结构的显微方法和应用研究》的报告，深入探讨了功能材料的显微分析方法。报告摘要如下：材料的微观结构决定了材料的物性，研究材料的原子占位、原子键合、以及电子结构是理解固体材料物理、化学性质及其性能调控的关键。不断提高原子分辨像的测量精准度和电子能量损失谱的空间、能量分辨率，拓展电镜功能以获取更丰富的材料物性信息是透射电子显微学的研究热点，也是电子显微学家孜孜不倦的追求。本报告将以几种典型的功能材料为例，介绍基于直接电子探测成像的4D-STEM和电子能量损失谱在实现原子分辨像和材料物性信息获取方面的研究进展。

南方科技大学的何东升高级工程师则介绍了《硅污染清洗技术在材料电镜和冷冻电镜中的应用》，为参会者提供了解决硅污染问题的新思路。报告摘要如下：电镜样品上附着的可移动有机物会被电子束吸引和沉积导致成像不清，并会隐形地影响样品的亲水性、表面导电性等。本报告强调电镜样品上除了碳氢化合物外，还普遍附着含硅物质，并提出解决方案。该硅污染清洗技术已经在南科大分析测试中心成功清洗2000多个样品，取得良好效果。本报告还会展示该技术在冷冻电镜的应用案例。

中国科学院物理研究所的王雪锋研究员通过《冷冻电镜技术分析锂离子电池失效机制》的报告，展示了冷冻电镜技术在电池研究中的独特优势。报告摘要如下：冷冻电镜（cryo-EM）技术已逐渐是电池领域研究的必备工具。冷冻或低温不仅可以有效地缓解高能电子束对样品造成的辐照损伤，而且可以大幅度地降低样品的反应活性，提高样品的稳定性。冷冻电镜可以为辐照敏感材料提供纳米、甚至是原子尺度的微观结构信息。本报告将重点介绍冷冻电镜在分析锂离子电池失效机制的相关应用和成果，包括冷冻聚焦离子束-扫描电子显微镜（cryo-FIB-SEM）和冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM），以便进一步了解冷冻电镜在解析电池工作机理和指导材料结构设计等方面所发挥的优势和作用。报告人将重点介绍冷冻电镜在硅负极界面演变与恶化和全固态电池中固-固界面等方面的应用与成果。冷冻电镜技术的发展将有助于解析电池材料与界面结构，了解电池运行和失效机制，从而促进高比能和高安全性电池的发展。

此外，吉林大学的管凯研究员的《高性能稀土镁合金设计及微观组织表征》展示了稀土镁合金在材料科学中的独特魅力，报告摘要如下：传统镁合金的强度相对较低，严重限制其工程应用，稀土元素在镁合金中可以显著提高合金强度和耐热性能。Sm是在Mg中极限固溶度最大的轻稀土元素，Mg-Sm基合金表现出良好的力学性能，挤压Mg-3.5Sm-0.6Zn-0.5Zr合金经时效后，屈服强度大于400 MPa。重点研究合金化元素、塑性加工及热处理对Mg-Sm基合金微观组织演化规律的影响，并讨论相关作用机制。

重庆理工大学的柴林江教授分享了《基于高能束表面处理的锆合金组织/织构特征研究进展》，报告摘要如下：锆合金在核工业、化工和生物医学领域均有着重要的工程应用，这往往对其表面性能（耐腐蚀、耐磨损等）有较高要求，而表面性能的提升根本上由其表层组织/织构特征所决定。本课题组近年应用高能束（脉冲激光和电子束）表面处理技术，对包括Zr702、Zr-2.5Nb、Zr-4等在内的一系列锆合金材料进行了表面改性探索，实现了表面性能的大幅提升，并基于细致的微观组织/织构表征阐明了其微观机理。

最后，上海微纳国际贸易有限公司的赵颉产品经理带来了《Fischione Picomill®电子束/氩离子束双束精修系统在电镜制样中的应用》的报告。报告摘要如下：随着球差校正电子显微镜的发展，对于TEM分辨率要求越来越高，同时采用FIB进行TEM样品制备的方法也越来越普遍。但是FIB制备TEM样品往往会带来离子束损伤、Ga离子注入以及非晶层等影响后续显微分析的准确性。Fischione Picomill®电子束/氩离子束双束精修系统具有二次电子探测器、背散射探测器以及扫描透射探测器，可以时时观察样品状态，监控样品减薄厚度。同时采用可控的低能（最低50eV）Ar离子束对FIB制备的TEM样品进行定点精修，达到去除离子束损伤、消除Ga离子注入以及去除非晶层的作用。并且由于低温加工的方式，可以有效避免在样品精修过程中产生的热效应，制备出超薄TEM样品，以便后续的球差电镜分析。

在会议结束后，许多参会者纷纷表示收获颇丰，不仅了解了电镜制样技术的最新进展，还结识了许多同行专家，为今后的科研合作奠定了坚实的基础。此外，部分参会者还就相关问题和报告嘉宾进行了深入的交流和探讨。

本次多尺度可控环境电镜制样技术研讨会成功举办，有效推动了电镜制样技术的交流与合作，为材料科学领域的进步贡献了积极力量。未来，我们诚邀更多专业人士参与此类研讨会，共谋科技发展新篇章，期待您的加入！