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精密凹坑仪作为一种易于操作的高质量电子显微镜样品制备的机械减薄仪器，通过制备中间薄边缘厚的样品，使样品具有一定强度方便转移和夹持，同时中间厚度可以＜5μm，可大大缩短离子减薄时间，通过连续厚度对中心区域薄区的支撑，提高制样效率和成功率。
主要性能特点：
- 用于TEM离子减薄样品的前处理
- 具备研磨速率控制模式，可实现双面凹坑
- 可控磨削力度以及速度
- 无振动研磨
- 精确显示试样厚度
- 易于编程
- 适配来自Fischione 160型试样研磨机研磨后的试样
- 可选40倍显微镜附件，直接观察样品
更新中...
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400-606-8199
沪公网安备 31011702008509号
