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PicoMill® TEM specimen preparation system 电子束/氩离子束双束精修系统

型号:1080

PicoMill系统结合超低能量的惰性气体离子束制样系统和具备多个探头的扫描电子显微成像系统,高精度制备最理想的 TEM样品。
- 作为FIB样品后处理精修系统,制备无非晶层及镓离子注入TEM样品;
- 采用透射电镜测角台及样品杆进样设计,降低样品转移失败风险;
- 高分辨电子束精确定位,结合600nm极细低能氩离子束原位精修;
- 配备SE/BSE/STEM多种探头结合智能AI软件,精确控制样品最终厚度;
- 可选配液氮冷冻样品杆,满足超薄样品制备及低温TEM原位观察;
- 计算机控制,所有操作均可可程序化设定,使用方便。
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PicoMill系统结合超低能量的惰性气体离子束制样系统和具备多个探头的扫描电子显微成像系统,高精度制备最理想的 TEM样品。

- 作为FIB样品后处理精修系统,制备无非晶层及镓离子注入TEM样品;

- 采用透射电镜测角台及样品杆进样设计,降低样品转移失败风险;

- 高分辨电子束精确定位,结合600nm极细低能氩离子束原位精修;

- 配备SE/BSE/STEM多种探头结合智能AI软件,精确控制样品最终厚度;

- 可选配液氮冷冻样品杆,满足超薄样品制备及低温TEM原位观察;

- 计算机控制,所有操作均可可程序化设定,使用方便。

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