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Advanced STEM Detector 多功能STEM探头

型号:

配备集成16通道前置放大器,用于读取探测器的每个通道,且能够保证都具有很好质量
成像具备非常低噪音
快速响应时间<30ns
前置放大器增益为10e5 V/A
兼容各种类型的PNDetector公司STEM探头
适配各种型号透射电镜/扫描电镜
同时支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多种成像
  • 产品特点
  • 产品应用
  • 产品图库
主要技术特色:
提供各种不同几何结构及分割探头选择
同时支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多种成像
支持电压范围:5keV~300keV
配备集成16通道前置放大器,用于读取探测器的每个通道,且能够保证都具有很好质量
探头感度高,成像具备非常低噪音
快速响应时间<30ns
前置放大器增益为10e5 V/A
兼容各种类型的PNDetector公司STEM探头
适配各种型号透射电镜/扫描电镜
可选探头种类:

应用结果:


图1:含嵌入SiC纳米颗粒(10-200 nm)的镁薄片的FIB薄片,平均原子序数差异非常小(Mg:Z=12,MgO:Z=10, SiC:Z=10),利用PNDetector高级多功能STEM探头可以同时获取BF/LAADF/MAADF/HAADF图像

图2:35nm薄钴金属样品的DPC成像结果,磁畴结构的方向和强度用不同颜色表示

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